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千兆位以太网设备面临的测试挑战
作者：:Kevin L. Paton

过去的以太网产品只需进行电气测试即可，而现在测试工程师面对的标准既要支持电气性能也要支持光学性能，同时更高数据率也对测试提出了新的要求，在高数据率下运行的电子产品会产生噪声问题，而这个问题不会出现在10/100BaseT产品上；另外这类产品的光学部分可能是一些测试工程师首次接触到的光测试。

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