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LogicVision的内建自测试产品加快IC测试循环时间

嵌入测试专业公司LogicVision最近量产一种新型内建自测试(BIST)产品线，据称能缩减系统级芯片(SOC)、存储器及其它设计的IC测试循环时间达两个月。

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