电子工程专辑

解决多总线系统级芯片测试问题的多域方法

多总线IC设计的迅速涌现将使测试过程更为复杂，对于基于多时钟域和高速总线的复杂IC设计，传统的ATE方法缺乏必要的多域支持和足够的性能以确保快速的测试开发和高效能。

请登陆网站阅读全文>>

还未注册? 快速注册成为电子工程专辑用户

邮箱地址：
密码：
确认密码：
公司名：
工作性质：
产品和服务：

点击此处填写完整注册信息，即可免费订阅电子工程专辑信息速递，并在线申请订阅杂志

已经注册? 登录阅览全部精彩内容

	如果您已经是以下网站的注册用户，请使用您当时的注册帐号登陆
电子工程专辑旗下网站电子工程专辑印度版电子工程专辑英文版电子工程专辑繁体中文版电子工程专辑韩文版模拟混合信号电源系统嵌入式设计印度版电源设计印度版家庭娱乐系统手持电子设备工业控制汽车电子

如果您已经是以下网站的注册用户，请使用您当时的注册帐号登陆

电子工程专辑旗下网站

eeWhitePaper

精彩技术白皮书免费下载

您的电源设计书—Vicor产品目录New!
MIMO射频测试测量技术与应用
用于WCDMA的微型双工器

EE小组

十五周年

技术文章下载专区

eMedia Asia	EE Times - Asia\|EE Times - India\|\|\|手持电子设备\|家庭娱乐系统\|工业控制\|汽车电子设计\|电源系统\|模拟混合信号\|国际电子商情\|电子系统设计
环球资源	环球资源企业网\|环球资源内贸网\|世界经理人\|尚品人生\|Electronic Components\|Computer Products
TechInsights	EE Times\|ESM Online