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存储器测试修补电路插入新方法出炉,缩短系统IC设计周期
作者::Dylan McGrath

Genesys Testware公司近日宣布,把嵌入式存储器测试和修补电路自顶向下插入ArraytestMaker嵌入式存储器修补工具之中。Genesys表示,现有可用的工具采用自底向上的方法插入嵌入式存储器测试电路,花费的时间长达几周;Genesys的自顶向下方案使系统IC设计工程师只要几天时间就能插入存储器测试和修补电路,在效率上没有折衷。

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