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在纳米设计中重新考虑DFT策略
作者：:Chee-Chun Tay

半导体行业面临的基本问题是，为了保持质量，他们不得不在生产过程中进行一些先进的测试。130nm全速测试已经成为生产测试中的一个非常标准的部分，随着客户逐渐转移到90和65纳米，他们正在寻找其它类型的先进测试方法。具有所有先进测试模式和缺陷模式的完整解决方案对于改进缺陷检测很必要。

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