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四端口晶片射频测量方法取得进展

复杂的四端口晶片测量要求注意探测系统的细微之处，并采用先进的VNA校准算法。直至如今，先进的“宽容限探测”四端口校准技术尚未研发出来。而目前可以使用一种新型的混合校准技术，来降低四端口器件测量的复杂度，并提供精密的、可靠的和可重复的四端口校准。

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