科利登发布高速串行总线集成测试解决方案Sapphire D-6?32DFT

关键字： D-6432DFT  Sapphire  测试平台 

为半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的供应商科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation)推出高性价比、性能良好的解决方案Sapphire D-6?32DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出强化了科利登市场的Sapphire测试平台。

Sapphire D-6?32DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6?32DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计(DFT)方法，助其降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。

Sapphire D-6?32DFT有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，D-6?32DFT集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括：

·每一通道通过集成电路实现同时的、并行的抖动注入和抖动测量，并不需要附加设备

·电压和时间域中的全封闭眼图测试

·除了极低成本的差分测试，还集成了用于扫描/功能性测试的400/800Mbps数据子系统

·增加了解决信号完整性问题的灵敏度覆盖检测

·接收器和发送器通道可用来为内核逻辑和协议堆栈提供测试向量

·用于全面DC参数测试的器件管脚存取

Sapphire D-6?32DFT设备现已投放市场。