NI：借图形化开发优势向系统设计平台发展
作者：:张毓波

每年一度的NIWeek都是National Instruments(美国国家仪器公司)发布其最新产品并对测试测量技术的未来方向进行预测的最佳时机。在本年度的NIWeek中，来自全球的3000多名工程技术和管理人员汇聚一堂，不仅见证了NI在测试测量的最新进展，而且正在逐步涉足和拓展控制和设计两大领域，实践着公司的远景目标，即为工程师和科学家们提供一个从设计、原型到发布的统一平台。