微捷码、Inovys、Source III协力确保Talus ATPG技术与领先测试设备间的互用性

关键字： 可测试性设计技术  DFT  自动测试设备 

芯片设计软件供应商微捷码设计自动化有限公司宣布其已与Inovys公司进行合作，以确保Talus ATPG以及Talus ATPGX与Oeclot测试装置之间的互用性。微捷码及这些合作伙伴同时正在开发从测试装置到Talus ATPG诊断能力的有效反馈路径，这样设计员就可以进一步分析设备故障原因。基于在1450年IEEE（电气和电子工程师协会）的标准测试接口语言（STIL）以及本次与Inovys和Source III合作，微捷码将努力提高其测试质量，简化测试流程和减少测试成本。

Source III公司的执行总裁John Cosley谈到，“Source III公司经过20多年的努力开发了CAE工具，帮助设计员进行数据密集型设计、仿真及测试。我们很乐意进一步努力与微捷码进行合作，以便为不同种类的自动测试设备提供从Talus ATPG至测试程序的直接路径。”

微捷码设计执行事务部总经理Kam Kittrell 说，“当意识到测试比EDA（电子设计自动化）工具生成的向量更重要时，微捷码继续扩大其产品组合以便更好地从事在纳米集成电路方面的设计和测试挑战。我们同时致力于与其它测试技术领先者进行合作。而实现与领先测试设备供者产品之间的互用性又是微捷码可测试性设计技术(DFT)发展阶段的一个重要里程碑，并且它能确保我们的产品与我们客户测试设备之间的互用性。”

“Inovys十分高兴有机会与顶级EDA（电子设计自动化）供应商合作以提供设计与生产间的无缝连接，借助独特的故障分析工具，让半导体公司能够减少设计测试时间从数星期到数小时不等，同时加快量产时间。” Inovys行销副总裁Colin Ritchie表示，“通过确保Talus ATPG技术与我们的Ocelot测试设备的互用性，相信我们的客户将能够进一步减少他们高性能集成电路的开发和测试成本。”