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低功耗制造测试的设计-第一部分
作者：:Chris Allsup

为避免数字电路测试的功耗问题尤其是测试超大规模SoC时的功耗问题，其最佳途径是在可测试性设计(DFT)过程中结合可感测功率的测试技术。本文将首先介绍动态功耗与测试之间的关系，以说明功率管理的迫切性；然后介绍两种利用ATPG技术自动生成低功率制造性测试的DFT技术。

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