设计技术问答系列专题之九：用吉时利创新测试平台测试半导体参数


随着半导体工艺被大规模的使用，无论是芯片设计公司还是芯片制造公司，测试工程师都面临着越来越大的挑战。如何快速而正确得获取大量的工艺特性参数，可靠性特性参数，功能特性参数成了摆在测试工程师面前的亟需解决的问题。作为半导体参数测试领域的领先者，吉时利仪器新创新的测试平台ACS，整合了吉时利仪器众多的领先测试仪器，从DC到RF，测试工程师可以在这个平台上完成诸如On-the-Fly NBTI等新型测试。