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嵌入式测试为串行I/O提供真正的价值
作者：:Bill Schulze

随着半导体技术在复杂度和功能以及速度等方面的不断发展，嵌入式系统中对串行I/O的采用正日益普及，嵌入式测试方案将为系统设计师分析系统提供真正的机会，不论是硬件还是软件。尽管将高速串行总线整合到嵌入式系统中可以解决许多问题，但设计和确认过程与以往有很大不同。也将对如何组建设计团队和采用什么工具产生影响。

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