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摘要：在NI技术研讨会上，NI的区域工程师周林和杨诚为我们讲述了下面三方面内容：1.下一代自动化测试系统发展的趋势和需求；2.软件定义的模块化测试系统架构；3.从直流到射频的综合功能测试。欢迎广大工程师朋友下载阅读。
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