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业界新闻 (按日期排序)
- 安捷伦携手行业领袖，推进全面数字技术测试解决方案 (2006-09-29)
- 速度、精度两不误，Magma Spice电路仿真工具刷新纪录 (2006-09-28)
- 业界三强联手扩张，共建电子测量实验室 (2006-09-27)
- 德州仪器的技术“狂人” (2006-09-22)
- 普源精电誓言：2008财年争做亚洲电子测试仪器老大 (2006-09-18)
- 新日本无线推出宏模型参数下载服务，涉及54种主力产品 (2006-09-18)
- 聚焦产业热点展示创新科技，高交会倾力打造电子行业新优势 (2006-09-14)
- R&S面向WiMAX应用提供具成本效益测量方案 (2006-09-13)
- 钒创在深圳光博会上展出系列测试设备产品 (2006-09-12)
- 安捷伦“名门三杰”震撼登场，倾情演绎测量新技术 (2006-09-11)
- 中国《电子成就奖》表彰杰出半导体公司的创新精神和优质服务－活动开始接受报名 (2006-09-08)
- China Electronic Design Awards to Honor Outstanding Semiconductor Firms for Innovation and Quality ? Nominations Now Open (2006-09-08)
- 内存数据库系统纳入RTOS开发套件，助力嵌入式应用开发 (2006-09-06)
- 手机也需“内外兼修”，工业设计新技术助力把握消费心理 (2006-09-01)
- 七大技巧助你成功迈向新的工作岗位！ (2006-09-01)
- Pilz量身打造控制系统智能诊断技术，PVIS概念应运而生 (2006-08-28)
- 横河天津办正式揭幕，在华战略部署已然过半 (2006-08-25)
- AMD高层深层剖析Opteron：瞄准“四核”向更高性能进军 (2006-08-23)
- 首个纳米级PH计问世，可检测肿瘤等活组织细胞 (2006-08-22)
- 北美进行高速Serdes I/O合作计划，实现低成本宽范围测试 (2006-08-18)
- 该用生物传感器给测试系统“减减肥”了！ (2006-08-17)
- MIMO技术引发测试挑战，业界专家指点应对之策 (2006-08-17)
- PCB设计凸显技术瓶颈，三大矛盾难以调和？ (2006-08-16)
- 半导体“五巨头”加入Nexus 5001论坛，推进嵌入式多核调试工具 (2006-08-15)
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如何进行PCI-Express的一致性测试和分析
(2006-08-10)
- STC前途未卜，英飞凌毅然加入只为削研发成本？ (2006-08-09)
- Jasper力推Gold 4.2验证系统，为客户提供更佳体验 (2006-07-27)
- “混合仿真器”问世，初创公司放言仿真速度可加快百倍 (2006-07-25)
- 2006年第一季度十大热门测试和测量设备 (2006-07-25)
- 台积电ARM致力创新低功耗设计技术，65纳米测试芯片功耗可降低一半 (2006-07-21)
- 跨越设计制造鸿沟，最新设计流程将成品率分析融入布线技术 (2006-07-18)
- 分享最新除错技术与经验，2006源笙软件研讨会即将开幕 (2006-07-18)
- 经历短暂复苏，ATE产业又将进入“休眠”？ (2006-07-13)
- 安捷伦8960无线测试仪为3G开发商提供多种解决方案 (2006-06-29)
- OCP-IP发布功能覆盖指南，可保证IP模块兼容性 (2006-06-20)
- Virtutech技术创建切换芯片的虚拟模式 (2006-05-24)
- CATR、R&S再度合作，采用CRTU测试设备进行3G终端一致性认证 (2006-04-29)
- NI面向Blackfin处理器发布LabVIEW嵌入式模块，简化系统开发 (2006-04-26)
- PISMO2.0标准通过审批，进一步简化系统级存储设备的测试 (2006-04-14)
- 良好规划使PCI Express验证事半功倍 (2006-04-14)
- 安捷伦在成都举办测量仪器展，瞄准西南客户需求 (2006-04-10)
- 安捷伦专注于测试与测量市场，全面服务中国研发和设计 (2006-04-07)
- 泰克AFG3000任意波形发生器被中华大学用于科研和教学 (2006-04-07)
- Denali的测试软件支持PCI Express 2.0规范 (2006-04-05)
- Valor DFM方案协助西门子提升电路板制程良率 (2006-03-30)
- NI将在上海主办第三届“中国PXI技术和应用论坛” (2006-03-27)
- ASAT选择Agilent 93000平台进行大批量混合信号测试 (2006-03-27)
- 飞思卡尔与TI共同开展第一级别RapidIO互操作性测试 (2006-03-24)
- 安捷伦新推超小型测试头，瞄准消费电子SoC测试需求 (2006-03-23)
- 泰克续推DPO系列示波器，4000面向嵌入式电路设计应用 (2006-03-22)
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