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| 2008-11-14 |
评论：EDA产业的前景，从“EDA”回归“DA” |
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如何让EDA产业健康成长是最近几年一直在讨论的问题，特别是现在这个问题更加中肯，因为大多数人认为EDA已经覆盖了整个电子设计，包括架构研究、掩模制造和失效分析等。 |
| 2008-07-18 |
微捷码CAD导航工具Knights Camelot新增多款选配软件 |
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芯片设计软件供应商微捷码（Magma）设计自动化公司日前宣布，已增强了业界标准CAD导航系统Knights CamelotTM的功能。其中，一款新的选配软件使Knights Camelot成为第一个能让失效分析工程师在制造过程中实施设计规则检查（DRC）的CAD导航工具。 |
| 2007-09-07 |
深入探讨工业产品材料技术，香港科技园研讨会为工程师提供有效表面分析工具 |
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深圳高新区和香港科技园将联合举办工业材料及光电子部件特性研讨会。这次研讨会探讨了在工业产品开发和人工分析扫描产品中许多材料特性技术，这次研讨会为工程师和管理者提供在光电子器件、材料分析、过程开发、失效分析及产品品质控制应用中的一些有效的、常用的表面分析工具。 |
| 2007-01-10 |
Vishay推出用于应力分析测试的System 7000 |
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Vishay Intertechnology不久前宣布推出System 7000。通过与Vishay Micro-Measurement StrainSmart软件配套使用，System 7000可对来自应力计和相关传感器的数据进行采集、采样和还原，用于应力分析测试。该器件对配置传感器数目不设限，可满足一系列精确的应力测试要求。同时，还适用于飞机、汽车、建筑机械、桥梁、建筑等产品的设计验证以及对工业、电脑、医疗、消费产品等进行配件失效分析。 |
| 2005-07-26 |
失效分析案例集 |
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案例1：大电流导致器件金属融化。某产品在用户现场频频出现损坏，经过对返修单板进行分析，发现大部分返修单板均是某接口器件失效，对器件进行解剖后，在金相显微镜下观察，发现器件是由于EOS导致内部铝线融化，导致器件失效，该EOS能量较大。 |
| 2004-12-28 |
DDR I/II总线的失效分析方法探索 |
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DDR全名为Double Data Rate SDRAM ，简称为DDR。现在市场上的DDR已经发展到了DDR II，速度可以支持到667MT/s。FBD（Fully Buffered DIMM）也即将在市场上推出，速度更快。DDR总线走线数量多，速度快，操作复杂，容易出现问题，给测试和分析带来了很高的挑战。本文对DDR总线的失效情况进行了分析，总结一些实践经验，给出了测试分析的一些思路和方法。 |
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